1、镀层分析快速、无损，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10秒~3分钟，分析精度高。 铜基电镀膜厚测试仪是光物理测量，其对测试样品不会产生任何的物理、化学变化，因此，其属于无损测量。同时对测试的样品不需要任何处理，分析速度更加快捷。···

天瑞仪器生产的X射线无损检测膜厚仪THICK800A采用X射线的原理对待测样品进行激发，释放的特征X射线进行分析，通过对比分析，得到厚度检测数据，该方法具有快速，准确，无损的特点。···

XRF膜厚测试仪是用X射线激发各种物质(如金、银、镍)的特征X射线，然后测量释放出的特征X射线的能量来表征样品，测量释放出的特征X射线的强度，并与标准片(或对照样品)进行比较，得到各种物质的厚度。，强度与厚度的对应关系在软件的背景下形成一条曲线。然而，随着各种物质的强度增加，厚度值也增加，但它不是绝对的线性关系。通过标…···

天瑞仪器Xray膜厚测试仪Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率*为139eV，处于国际*水平；产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合国际规定；样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研…···